Počet záznamů: 1
Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon"
SYS 0355032 LBL 02471^^^^^2200385^^^450 005 20240103194710.6 014 $a 77956321290 $2 SCOPUS 017 $a 10.1103/PhysRevB.81.237301 $2 DOI 100 $a 20110120d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon" 215 $a 4 s. 300 $a UT WOS nezjištěno 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257971 $1 011 $a 1098-0121 $1 200 1 $a Physical Review. B $v Roč. 81, č. 23 (2010), 237301/1-237301/4 610 0-
$a conductive atomic force microscopy 610 0-
$a oxidation 610 0-
$a microcrystalline silicon 700 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Vetushka $b Aliaksi $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Ledinský $b Martin $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Rezek $b Bohuslav $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Stuchlík $b Jiří $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1