Počet záznamů: 1
Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon
SYS 0354945 LBL 01944^^^^^2200421^^^450 005 20240103194705.8 014 $a 000280989100016 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.tsf.2010.05.107 $2 DOI 100 $a 20110119d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a CH 200 1-
$a Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257662 $1 011 $a 0040-6090 $e 1879-2731 $1 200 1 $a Thin Solid Films $v Roč. 518, č. 21 (2010), s. 5965-5970 $1 210 $c Elsevier 610 0-
$a amorphous materials 610 0-
$a atomic force microscopy (AFM) 610 0-
$a conductivity 610 0-
$a crystallization 610 0-
$a nanostructures 610 0-
$a silicon 610 0-
$a nickel 700 -1
$3 cav_un_auth*0258678 $a Verveniotis $b Elisseos $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $a Rezek $b Bohuslav $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100560 $a Šípek $b Emil $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1