Počet záznamů: 1
Evaluation of defect concentration in doped SWCNT
SYS 0353077 LBL 01911^^^^^2200325^^^450 005 20240103194509.0 014 $a 000285798400039 $2 WOS 017 $a 10.1002/pssb.201000180 $2 DOI 100 $a 20110103d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a DE 200 1-
$a Evaluation of defect concentration in doped SWCNT 215 $a 4 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257422 $1 011 $a 0370-1972 $e 1521-3951 $1 200 1 $a Physica Status Solidi B $e Basic Solid State Physics $v Roč. 247, 11-12 (2010), s. 2797-2800 $1 210 $c Wiley 610 0-
$a defects 610 0-
$a Raman spectroscopy 610 0-
$a spectroelectrochemistry 700 -1
$3 cav_un_auth*0102823 $a Kalbáč $b Martin $i Odd. nízkodimenzionálních systémů $j Dept. of Low-dimensional Systems $p UFCH-W $w Low-dimensional Systems $4 070 $T Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0102829 $a Kavan $b Ladislav $i Odd. elektrochemických materiálů $j Dept. of Electrochemical Materials $p UFCH-W $w Electrochemical Materials $4 070 $T Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1