Počet záznamů: 1  

Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes

  1. SYS0353046
    LBL
      
    02161^^^^^2200289^^^450
    005
      
    20240103194506.9
    100
      
    $a 20110103d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng $d eng
    102
      
    $a BR
    200
    1-
    $a Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes
    215
      
    $a 2 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0352415 $1 010 $a 978-85-63273-06-2 $1 200 1 $a Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress $v I10.14: 1-2 $1 210 $a Rio de Janeiro $c Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise $d 2010
    610
    0-
    $a VPSEM
    610
    0-
    $a scintillation detector
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0022430 $a Jirák $b J. $y CZ $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0258031 $a Čudek $b P. $y CZ $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101600 $a Neděla $b Vilém $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.