Počet záznamů: 1
X-ray diffraction analysis of multilayer porous InP(001) structure
SYS 0351779 LBL 02082^^^^^2200337^^^450 005 20240103194345.7 014 $a 000276507600003 $2 WOS 017 $a 10.1134/S1063774510020033 $2 DOI 100 $a 20110314d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a RU 200 1-
$a X-ray diffraction analysis of multilayer porous InP(001) structure 215 $a 9 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0252631 $1 011 $a 1063-7745 $e 1562-689X $1 200 1 $a Crystallography Reports $v Roč. 55, č. 2 (2010), s. 182-190 $1 210 $c Pleiades Publishing 610 0-
$a silicon layers 610 0-
$a INP 700 -1
$3 cav_un_auth*0205181 $a Lomov $b A. A. $y RU $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0266979 $a Punegov $b V. I. $y RU $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0266980 $a Vasil'ev $b A. L. $y RU $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0101713 $a Nohavica $b Dušan $i 003 $j Technology of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101660 $a Gladkov $b Petar $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0266981 $a Kartsev $b A. A. $y DE $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0266982 $a Novikov $b D. V. $y DE $4 070
Počet záznamů: 1