Počet záznamů: 1
Influence of thickness on properties of YbxCo4Sb12 layers prepared by laser ablation
SYS 0350340 LBL 02253^^^^^2200397^^^450 005 20240418122306.0 014 $a 000277827900031 $2 WOS 014 $a 77950648709 $2 SCOPUS 100 $a 20110314d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a RO 200 1-
$a Influence of thickness on properties of YbxCo4Sb12 layers prepared by laser ablation 215 $a 4 s. 300 $a DOI nezjištěno 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0255635 $1 011 $a 1454-4164 $e 1841-7132 $1 200 1 $a Journal of Optoelectronics and Advanced Materials $v Roč. 12, č. 3 (2010), s. 572-575 $1 210 $c NATL INST OPTOELECTRONICS 610 0-
$a thermoelectrics 610 0-
$a thin layers 610 0-
$a skutterudites 700 -1
$3 cav_un_auth*0101768 $a Zeipl $b Radek $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0038565 $a Jelínek $b M. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0100293 $a Kocourek $b Tomáš $i Vlnové a částicové šíření světla, optické technologie a materiály $j Wave and corpuscular light propagation, optical technologies and materials $p FZU-D $w Optical and Biophysical Systems $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0214201 $a Navrátil $b Jiří $i Polymery pro optoelektronické a energetické aplikace $j Polymers for Optoelectronic and Energy Applications $k OPTOEL $l OPTOEL $p UMCH-V $4 070 $T Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0230828 $a Yatskiv $b Roman $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $w Synthesis and characterization of nanomaterials $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0269536 $a Josieková $b M. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0266140 $a Leshkov $b Sergey $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $w Optical biosensors $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100270 $a Jurek $b Karel $i Strukturní analýza $j Structural Analysis $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101765 $a Walachová $b Jarmila $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1