Počet záznamů: 1
Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces
SYS 0336680 LBL 01897^^^^^2200421^^^450 005 20240103192835.8 014 $a 000263736400009 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.susc.2008.12.003 $2 DOI 100 $a 20100115d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a NL 200 1-
$a Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces 215 $a 8 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257631 $1 011 $a 0039-6028 $e 1879-2758 $1 200 1 $a Surface Science $v Roč. 603, č. 3 (2009), s. 469-476 $1 210 $c Elsevier 541 1-
$a Fotoemise z vnitřních hladin a STM charakterizace rozhraní Ta/Si(111)-7x7 $z cze 610 0-
$a tantalum 610 0-
$a silicon 610 0-
$a silicide 610 0-
$a aAdsorption 610 0-
$a photoelectron spectroscopy 610 0-
$a scanning tunneling microscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0258719 $a Shukrynau $b Pavel $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100189 $a Dudr $b Viktor $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0203892 $a Švec $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Low-Dimensional Atomic and Molecular Structures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0222246 $a Vondráček $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100399 $a Mutombo $b Pingo $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Low-Dimensional Atomic and Molecular Structures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0244214 $a Skála $b T. $y IT $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0016776 $a Šutara $b F. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0016407 $a Matolín $b V. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0016408 $a Prince $b K. C. $y IT $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0100153 $a Cháb $b Vladimír $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1