Počet záznamů: 1
Profiling of N-Type Dopants in Silicon Based Structures
SYS 0335293 LBL 02227^^^^^2200337^^^450 005 20240103192707.4 100 $a 20100311d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a CZ 200 1-
$a Profiling of N-Type Dopants in Silicon Based Structures 215 $a 1 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0335292 $1 010 $a 978-80-254-4535-8 $1 200 1 $a Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09) $v S. 14 $1 210 $a Brno $c ISI AS CR $d 2009 $1 702 1 $a Pokorná $b Zuzana $4 340 $1 702 1 $a Mika $b Filip $4 340 610 0-
$a n-type substrate 610 0-
$a SEM 610 0-
$a PEEM 610 0-
$a doping levels 700 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $i S2: Speciální technologie $j S2: Special technologies $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0016438 $a Mikulík $b P. $y CZ $4 070
Počet záznamů: 1