Počet záznamů: 1
Profiling of N-type dopants in silicon structures
SYS 0335261 LBL 01972^^^^^2200337^^^450 005 20240103192704.9 100 $a 20100319d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a AT 200 1-
$a Profiling of N-type dopants in silicon structures 215 $a 2 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0335255 $1 010 $a 978-3-85125-062-6 $1 200 1 $a MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy $v Vol. 1: 181-182 $1 210 $a Graz $c Verlag der Technischen Universität $d 2009 610 0-
$a silicon 610 0-
$a dopants 610 0-
$a PEEM 610 0-
$a SEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $i S2: Speciální technologie $j S2: Special technologies $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 $u http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/19923.pdf
Počet záznamů: 1