Počet záznamů: 1
Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami
SYS 0320868 LBL 01966^^^^^2200409^^^450 005 20240103191257.6 100 $a 20090202d m y slo 03 ba 101 0-
$a cze 102 $a CZ 200 1-
$a Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami 215 $a 3 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0320864 $1 010 $a 978-80-254-3528-1 $1 200 1 $a Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference $v S. 31-33 $1 210 $a Rožnov pod Radhoštěm $c Czech RE Agency $d 2008 541 1-
$a Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques $z eng 610 0-
$a AFM 610 0-
$a KFM 610 0-
$a Raman scattering 610 0-
$a organic semiconductors 610 0-
$a photovoltaics 700 -1
$3 cav_un_auth*0100173 $a Čermák $b Jan $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $a Rezek $b Bohuslav $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0103006 $a Cimrová $b Věra $p UMCH-V $w Polymers for optoelectronics and energy applications $4 070 $T Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0087527 $a Hörhold $b H. H. $y DE $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1