Počet záznamů: 1
Enhancement of SEM to scanning LEEM
SYS 0088945 LBL 01495^^^^^2200313^^^450 005 20240103184709.8 014 $a 000250889500020 $2 WOS 017 7-
$a 10.1016/j.susc.2007.05.042 $2 DOI 100 $a 20080307d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a NL 200 1-
$a Enhancement of SEM to scanning LEEM 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257631 $1 011 $a 0039-6028 $e 1879-2758 $1 200 1 $a Surface Science $v Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773 $1 210 $c Elsevier 541 1-
$a Rozšíření SEM na rastrovací LEEM $z cze 610 0-
$a SEM 610 0-
$a LEEM 610 0-
$a scanning LEEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0015967 $a Matsuda $b K. $y JP $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0101557 $a Hrnčiřík $b Petr $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1