Počet záznamů: 1
Optical Near-Field Electron Microscopy
- 1.Marchand, R., Šachl, R., Kalbáč, M., Hof, M., Tromp, R., Amaro, M., van der Molen, M., Juffmann, T. Optical Near-Field Electron Microscopy. Physical Review Applied. 2021, 16(1), 014008. ISSN 2331-7019. E-ISSN 2331-7019. Dostupné z: doi: 10.1103/PhysRevApplied.16.014008.
Počet záznamů: 1