Počet záznamů: 1
Soft X-ray laser ablation for nano-scale chemical mapping microanalysis
- 1.Bleiner, D., Juha, L., Qu, D. Soft X-ray laser ablation for nano-scale chemical mapping microanalysis. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. 2020, 35(6), 1051-1070. ISSN 0267-9477. E-ISSN 1364-5544. Dostupné z: doi: 10.1039/c9ja00366e.
Počet záznamů: 1