Počet záznamů: 1
Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM
- 1.Mikmeková, Š., Jánský, P., Kolařík, V., Müllerová, I. Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM. Microscopy and Microanalysis. 2019, 25(S2), 444-445. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115. Dostupné z: doi: 10.1017/S1431927619002952
Počet záznamů: 1