Počet záznamů: 1
Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections
- 1.Skoupý, R., Nebesářová, J., Krzyžánek, V. Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections. Microscopy and Microanalysis. 2016, 22(S3), 926-927. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115. Dostupné z: doi: 10.1017/S143192761600547X
Počet záznamů: 1