Počet záznamů: 1
Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass
- 1.Vaněček, M., Holovský, J., Poruba, A., Remeš, Z., Purkrt, A. Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass. Praha: Tel Solar AG, Trübbach, Switzerland, 2015.
Počet záznamů: 1