Počet záznamů: 1
Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM
- 1.Krzyžánek, V., Skoupý, R., Hrubanová, K., Kočová, L., Nebesářová, J. Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM. In: MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 817-818.
Počet záznamů: 1