Počet záznamů: 1
Frequency Noise Properties of Lasers for Interferometry in Nanometrology
- 1.Hrabina, J., Lazar, J., Holá, M., Číp, O. Frequency Noise Properties of Lasers for Interferometry in Nanometrology. Sensors. 2013, 13(2), 2206-2219. E-ISSN 1424-8220. Dostupné z: doi: 10.3390/s130202206
Počet záznamů: 1