Počet záznamů: 1
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons
- 1.Hovorka, M., Konvalina, I., Frank, L., Mikulík, P. Mapping of dopants in silicon by injection of electrons. In: MC 2011 - Microscopy Conference Kiel. Kiel: DGE, 2011, IM7.P198:1-2. ISBN 978-3-00-033910-3.
Počet záznamů: 1