Počet záznamů: 1
FIB Induced Damage Examined with the Low Energy SEM
- 1.Mikmeková, Š., Matsuda, K., Watanabe, K., Ikeno, S., Müllerová, I., Frank, L. FIB Induced Damage Examined with the Low Energy SEM. Materials Transactions. 2011, 52(3), 292-296. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320. Dostupné z: doi: 10.2320/matertrans.MB201005
Počet záznamů: 1