Počet záznamů: 1  

Charge exchange between low energy Si ions and Cs adatoms

  1. 1.
    Chen, X., Šroubek, Z., Yarmoff, J. A. Charge exchange between low energy Si ions and Cs adatoms. Surface Science. 2008, 602(2), 620-629. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.