Počet záznamů: 1
Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon
- 1.Verveniotis, E., Rezek, B., Šípek, E., Stuchlík, J., Kočka, J. Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon. Thin Solid Films. 2010, 518(21), 5965-5970. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731. Dostupné z: doi: 10.1016/j.tsf.2010.05.107
Počet záznamů: 1