Počet záznamů: 1
Density of Mn interstitials in (Ga,Mn)As epitaxial layers determined by anomalous x-ray diffraction
- 1.Holý, V., Martí, X., Horák, L., Caha, O., Novák, V., Cukr, M., Schülli, T. U. Density of Mn interstitials in (Ga,Mn)As epitaxial layers determined by anomalous x-ray diffraction. Applied Physics Letters. 2010, 97(18), 181913/1-181913/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118. Dostupné z: doi: 10.1063/1.3514240
Počet záznamů: 1