Počet záznamů: 1
Interferometer Controlled Positioning for Nanometrology
- 1.Lazar, J., Číp, O., Čížek, M., Hrabina, J., Šerý, M. Interferometer Controlled Positioning for Nanometrology. In: Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa: International ASET, 2010, 525: 1-5. ISBN 978-0-9867183-0-4.
Počet záznamů: 1