Počet záznamů: 1
Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology
- 1.Lazar, J., Číp, O., Čížek, M., Hrabina, J., Šerý, M. Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology. WSEAS Transactions on Circuits and Systems. 2010, 9(10), 660-669. ISSN 1109-2734.
Počet záznamů: 1