Počet záznamů: 1
Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass
- 1.Hudec, R., Maršíková, V., Míka, M., Sik, J., Lorenz, M., Pína, L., Inneman, A., Skulinová, M. Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass. In: O'DELL, S., ed. Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IV. Bellingham: SPIE, 2009, 74370S-1-74370S-12. Proceedings of the SPIE, 7437. ISBN 9780819477279. ISSN 0277-786X. Dostupné z: http://dx.doi.org/10.1117/12.827978
Počet záznamů: 1