Počet záznamů: 1
Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces
- 1.Shukrynau, P., Dudr, V., Švec, M., Vondráček, M., Mutombo, P., Skála, T., Šutara, F., Matolín, V., Prince, K. C., Cháb, V. Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces. Surface Science. 2009, 603(3), 469-476. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758. Dostupné z: doi: 10.1016/j.susc.2008.12.003
Počet záznamů: 1