Počet záznamů: 1
Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser
- 1.Cihelka, J., Juha, L., Chalupský, J., Rosmej, F.B., Renner, O., Saksl, K., Hájková, V., Vyšín, L., Galtier, E., Schott, R., Khorsand, A.R., Riley, D., Dzelzainis, T., Nelson, A., Lee, R. W., Heimann, P., Nagler, B., Vinko, S., Wark, J., Whitcher, T., Toleikis, S., Tschentscher, T., Fäustlin, R., Wabnitz, H., Bajt, S., Chapman, H., Krzywinski, J., Sobierajski, R., Klinger, D., Jurek, M., Pelka, J., Hau-Riege, S., London, R.A., Kuba, J., Stojanovic, N., Sokolowski-Tinten, K., Gleeson, A.J., Störmer, M., Andreasson, J., Hajdu, J., Timneanu, N. Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser. In: JUHA, L., BAJT, S., SOBIERAJSKI, R., eds. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009, 73610P/1-73610P/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x. Dostupné z: http://dx.doi.org/10.1117/12.822766
Počet záznamů: 1