Počet záznamů: 1
Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam
- 1.Bajt, S., Chapman, H.N., Nelson, A.J., Lee, R. W., Toleikis, S., Mirkarimi, P., Alameda, J.B., Baker, S. L., Vollmer, H., Graff, R.T., Aquila, A., Gullikson, E.M., Meyer Ilse, J., Spiller, E.A., Krzywinski, J., Juha, L., Chalupský, J., Hájková, V., Hajdu, J., Tschentscher, T. Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam. In: JUHA, L., BAJT, S., SOBIERAJSKI, R., eds. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009, 73610J/1-73610J/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x. Dostupné z: http://dx.doi.org/10.1117/12.822498
Počet záznamů: 1