Počet záznamů: 1
Interaction of intense ultrashort XUV pulses with silicon
- 1.Sobierajski, R., Klinger, D., Jurek, M., Pelka, J. B., Juha, L., Chalupský, J., Cihelka, J., Hájková, V., Vyšín, L., Jastrow, U., Stojanovic, N., Toleikis, S., Wabnitz, H., Krzywinski, J., Hau-Riege, S., London, R. Interaction of intense ultrashort XUV pulses with silicon. In: JUHA, L., BAJT, S., SOBIERAJSKI, R., eds. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009, 736107/1-736107/11. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x. Dostupné z: http://dx.doi.org/10.1117/12.822152
Počet záznamů: 1