Počet záznamů: 1
Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
- 1.Nelson, A.J., Toleikis, S., Chapman, H., Bajt, S., Krzywinski, J., Chalupský, J., Juha, L., Cihelka, J., Hájková, V., Vyšín, L., Burian, T., Kozlová, M., Fäustlin, R.R., Nagler, B., Vinko, S.M., Whitcher, T., Dzelzainis, T., Renner, O., Saksl, K., Khorsand, A.R., Heimann, P.A., Sobierajski, R., Klinger, D., Jurek, M., Pelka, J., Iwan, B., Andreasson, J., Timneanu, N., Fajardo, M., Wark, J. S., Riley, D., Tschentscher, T., Hajdu, J., Lee, R. W. Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions. Optics Express. 2009, 17(20), 18271-18278. ISSN 1094-4087. Dostupné z: doi: 10.1364/OE.17.018271
Počet záznamů: 1