Počet záznamů: 1
Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK
- 1.Vacík, J., Hnatowicz, V., Červená, J., Apel, P. Y., Posta, S., Kobayashi, Y. Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK. Surface and Coatings Technology. 2007, 201(19-20), 8370-8372. ISSN 0257-8972.
Počet záznamů: 1