Počet záznamů: 1
Profilometry with sub-nanometre precision by Raman spectroscopy
- 1.LEDINSKÝ, M., HÁJKOVÁ, Z., VETUSHKA, A., TOMASI, A., PAVIET-SALOMON, B., DESPEISSE, M., ŘÁHOVÁ, J., FRANK, O., DE WOLF, S., BALLIF, C., FEJFAR, A. Profilometry with sub-nanometre precision by Raman spectroscopy. In: SHRBENÁ, J., ed. NANOCON 2016. List of Abstracts. Ostrava: Tanger Ltd., 2016, s. 56-56. ISBN 978-80-87294-68-0.
Počet záznamů: 1