Počet záznamů: 1
Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy
- 1.LEDINSKÝ, M., PAVIET-SALOMON, B., VETUSHKA, A., GEISSBÜHLER, J., TOMASI, A., DESPEISSE, M., DE WOLF, S., BALLIF, C., FEJFAR, A. Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy. Scientific Reports. 2016, 6(Dec), 1-7), 37859. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322. Dostupné z: doi: 10.1038/srep37859
Počet záznamů: 1