Počet záznamů: 1
Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions
- 1.LORINČÍK, J., VESELÁ, D., VYTYKÁČOVÁ, S., ŠVECOVÁ, B., NEKVINDOVÁ, P., MACKOVÁ, A., MIKŠOVÁ, R., MALINSKÝ, P., BOETTGER, R. Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions. Journal of Vacuum Science & Technology B. 2016, 34(3), 03H129. ISSN 1071-1023. Dostupné z: doi: 10.1116/1.4944525
Počet záznamů: 1