Počet záznamů: 1
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM
- 1.JIRÁK, J., ČUDEK, P., NEDĚLA, V. Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM. Microscopy and Microanalysis. 2011, 17(Suppl. 2), 922-923. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115. Dostupné z: doi: 10.1017/S1431927611005484
Počet záznamů: 1