Počet záznamů: 1
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology
- 1.MIKEL, B., BUCHTA, Z., LAZAR, J., ČÍP, O. DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology. In: Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa: International ASET, 2010, 277: 1-8. ISBN 978-0-9867183-0-4.
Počet záznamů: 1