Počet záznamů: 1
Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology
- 1.LAZAR, J., ČÍP, O., ČÍŽEK, M., HRABINA, J., ŠERÝ, M. Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology. WSEAS Transactions on Circuits and Systems. 2010, 9(10), 660-669. ISSN 1109-2734.
Počet záznamů: 1