Počet záznamů: 1
Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution
- 1.LEDINSKÝ, M., VETUSHKA, A., STUCHLÍK, J., FEJFAR, A., KOČKA, J. Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution. Physica Status Solidi C. 2010, 7(3-4), 704-707. ISSN 1862-6351. Dostupné z: doi: 10.1002/pssc.200982832.
Počet záznamů: 1