Počet záznamů: 1
Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length
- 1.MIKEL, B., BUCHTA, Z., LAZAR, J., ČÍP, O. Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length. In: Africon 2009. Los Alamitos: IEEE, 2009, 5308091: 1-6. ISBN 978-1-4244-3918-8. Dostupné z: https://doi.org/10.1109/AFRCON.2009.5308091
Počet záznamů: 1