Počet záznamů: 1
Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces
- 1.SHUKRYNAU, P., DUDR, V., ŠVEC, M., VONDRÁČEK, M., MUTOMBO, P., SKÁLA, T., ŠUTARA, F., MATOLÍN, V., PRINCE, K. C., CHÁB, V. Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces. Surface Science. 2009, 603(3), 469-476. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758. Dostupné z: doi: 10.1016/j.susc.2008.12.003
Počet záznamů: 1