Počet záznamů: 1
Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam
- 1.BAJT, S., CHAPMAN, H.N., NELSON, A.J., LEE, R. W., TOLEIKIS, S., MIRKARIMI, P., ALAMEDA, J.B., BAKER, S. L., VOLLMER, H., GRAFF, R.T., AQUILA, A., GULLIKSON, E.M., MEYER ILSE, J., SPILLER, E.A., KRZYWINSKI, J., JUHA, L., CHALUPSKÝ, J., HÁJKOVÁ, V., HAJDU, J., TSCHENTSCHER, T. Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam. In: JUHA, L., BAJT, S., SOBIERAJSKI, R., eds. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009, 73610J/1-73610J/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x. Dostupné z: http://dx.doi.org/10.1117/12.822498
Počet záznamů: 1