Počet záznamů: 1
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes
- 1.MÜLLEROVÁ, I., KONVALINA, I. Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes. Journal of Microscopy. 2009, 236(3), 203-210. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818. Dostupné z: doi: 10.1111/j.1365-2818.2009.03189.x
Počet záznamů: 1