Počet záznamů: 1
Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK
- 1.VACÍK, J., HNATOWICZ, V., ČERVENÁ, J., APEL, P. Y., POSTA, S., KOBAYASHI, Y. Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK. Surface and Coatings Technology. 2007, 201(19-20), 8370-8372. ISSN 0257-8972. E-ISSN 1879-3347.
Počet záznamů: 1