Počet záznamů: 1
Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass
- 1.VANĚČEK, Milan, HOLOVSKÝ, Jakub, PORUBA, Aleš, REMEŠ, Zdeněk, PURKRT, Adam. Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass. Praha: Tel Solar AG, Trübbach, Switzerland, 2015.
Počet záznamů: 1