Počet záznamů: 1
Damage mechanisms of MoN/SiN multilayer optics for next-generation pulsed XUV light sources
- 1.SOBIERAJSKI, R., BRUIJN, S., KHORSAND, A.R., LOUIS, E., VAN DE KRUIJS, R.W.E., BURIAN, Tomáš, CHALUPSKÝ, Jaromír, CIHELKA, Jaroslav, GLEESON, A., GRZONKA, J., GULLIKSON, E.M., HÁJKOVÁ, Věra, HAU-RIEGE, S., JUHA, Libor, JUREK, M., KLINGER, D., KRZYWINSKI, J., LONDON, R., PELKA, J. B., PŁOCIŃSKI, T., RASIŃSKI, M., TIEDTKE, K., TOLEIKIS, S., VYŠÍN, Luděk, WABNITZ, H., BIJKERK, F. Damage mechanisms of MoN/SiN multilayer optics for next-generation pulsed XUV light sources. Optics Express. 2011, 19(1), 193-205. ISSN 1094-4087. Dostupné z: doi: 10.1364/OE.19.000193
Počet záznamů: 1