Počet záznamů: 1
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology
- 1.MIKEL, Břetislav, BUCHTA, Zdeněk, LAZAR, Josef, ČÍP, Ondřej. DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology. In: Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa: International ASET, 2010, 277: 1-8. ISBN 978-0-9867183-0-4.
Počet záznamů: 1