Počet záznamů: 1
Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces
- 1.SHUKRYNAU, Pavel, DUDR, Viktor, ŠVEC, Martin, VONDRÁČEK, Martin, MUTOMBO, Pingo, SKÁLA, T., ŠUTARA, F., MATOLÍN, V., PRINCE, K. C., CHÁB, Vladimír. Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces. Surface Science. 2009, 603(3), 469-476. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758. Dostupné z: doi: 10.1016/j.susc.2008.12.003
Počet záznamů: 1