Počet záznamů: 1
Two-dimensional dopant profiling with low energy SEM
- 1.MIKA, Filip, FRANK, Luděk. Two-dimensional dopant profiling with low energy SEM. Journal of Microscopy. 2008, 230(1), 76-83. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818.
Počet záznamů: 1