Počet záznamů: 1
Investigating the thin film growth of [Ni(Hvanox).sub.2./sub.] by microscopic and spectroscopic techniques
- 1.
SYSNO ASEP 0618377 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Investigating the thin film growth of [Ni(Hvanox)2] by microscopic and spectroscopic techniques Tvůrce(i) Sapre, Atharva Umesh (FZU-D) ORCID
Vlček, Jan (FZU-D) RID, ORCID
de Prado, Esther (FZU-D) ORCID, RID
Fekete, Ladislav (FZU-D) RID, ORCID
Klementová, Mariana (FZU-D) RID, ORCID
Vondráček, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Svora, Petr (FZU-D) ORCID
Cuza, E. (IE)
Morgan, G.G. (IE)
Honolka, Jan (FZU-D) RID, ORCID
Kühne, Irina A. (FZU-D) ORCIDCelkový počet autorů 11 Číslo článku 2083 Zdroj.dok. Nanoscale Advances. - : Royal Society of Chemistry - ISSN 2516-0230
Roč. 7, Feb (2025)Poč.str. 9 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova thin film ; AFM ; SEM ; TEM ; XRD ; 3D electron diffraction Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) CEP GA23-05878S GA ČR - Grantová agentura ČR EH22_008/0004596 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LM2023051 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Open access Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 001426865500001 EID SCOPUS 85219074946 DOI https://doi.org/10.1039/d4na01021c Anotace We have investigated [Ni(Hvanox)2] (H2vanox = o-vanillinoxime), a square-planar Ni(II) complex, for the preparation of thin films using organic molecule evaporation. Low pressure experiments to prepare thin films were conducted at temperatures between 120–150 °C and thin films of increasing thicknesses [Ni(Hvanox)2] (16–336 nm) have been prepared on various substrates and been analyzed by microscopic and spectroscopic methods. Scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) and transmission electron microscopy (TEM) were used to reveal a rough surface morphology which exhibits a dense arrangement of elongated, rod and needle-like nanocrystals with random orientations. It also enabled us to follow the growth of the thin films by increasing thickness revealing the formation of a seeding layer. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS and 3D ED), TEM and X-ray diffraction (XRD) were utilized to confirm the atomic structure and the elemental composition of the thin films. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2026 Elektronická adresa https://hdl.handle.net/11104/0365240
Počet záznamů: 1